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產(chǎn)品詳細頁
SA-Stage-C單點反射測量支架

SA-Stage-C單點反射測量支架

  • 產(chǎn)品型號:
  • 更新時間:2023-12-19
  • 產(chǎn)品介紹:SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。
    這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達80mm。
  • 廠商性質(zhì):代理商
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產(chǎn)品介紹

品牌其他品牌價格區(qū)間面議
組件類別光學元件應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子

SA-Stage-C單點反射測量支架


SA-Stage-C單點反射測量支架是一個光纖探頭支架,用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。
這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達80mm

規(guī)格SA-Stage-C
尺寸:Φ150mm×厚10mm
高度:垂直可調(diào)高度80mm
材質(zhì):鋁合金
表面處理:亞光發(fā)黑
適配產(chǎn)品:QR系列反射光纖
用途:專為反射光纖測量而設計,能有效固定光纖探頭,防止因抖動等人為因素影響檢測效果.

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